EDS是一個(gè)電子殼層的電子被外來(lái)粒子或者能量激發(fā)，留下一個(gè)空位，外層電子躍遷至這個(gè)空位，就會(huì )放出特征X射線(xiàn)，這樣不同殼層之間的電子轉移導致的能量差就會(huì )有不同的譜線(xiàn)，EDS譜線(xiàn)就是把這些特征X射線(xiàn)脈沖的累積分開(kāi)得到的。

這樣一來(lái)，譜線(xiàn)越多，說(shuō)明外面的電子占有殼層越多。而定量分析時(shí)是根據不同元素來(lái)選擇不同線(xiàn)系的譜峰強度以及這個(gè)元素的響應值來(lái)做計算的，譜峰多跟元素含量沒(méi)有關(guān)系。

EDS能譜分析范圍

混合物，薄膜，腐蝕產(chǎn)物，顆粒物，粉末，芯片，瀝青，石墨等。

分析項目：EDS能譜分析

EDS能譜分析報告有哪些作用?

1、銷(xiāo)售使用。(有了第三方檢測報告，能讓自己的產(chǎn)品在銷(xiāo)售方面體現出一定的優(yōu)勢性)

2、改善產(chǎn)品質(zhì)量使用。(通過(guò)檢測報告數據，發(fā)現自身產(chǎn)品問(wèn)題所在，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本)

3、產(chǎn)品進(jìn)出口使用。

4、產(chǎn)品質(zhì)控及原因分析使用。

5、科研論文數據使用。

EDS能譜分析標準

GB/T束分析　分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣通用規范

GB/T 表面化學(xué)分析　X射線(xiàn)光電子能譜　薄膜分析結果的報告

GB/T束分析　掃描電鏡-能譜法　大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析

GB/T 俄歇電子能譜儀檢定方法