GTG·干貨 | 3米法與10米法暗室的區(qū)別：探討電磁兼容測(cè)試的優(yōu)質(zhì)選擇

電磁兼容性（EMC）是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中至關(guān)重要的一個(gè)方面，它涉及到設(shè)備在不同電磁環(huán)境中能否正常工作。為了保證產(chǎn)品的電磁兼容性，電磁兼容測(cè)試是必不可少的。在電磁兼容測(cè)試中，3 米法與 10 米法暗室是兩種常見(jiàn)的測(cè)試環(huán)境，那么它們之間的區(qū)別是什么呢？

一、3 米法與 10 米法暗室的概念及應(yīng)用

3m法電波暗室是按照3m測(cè)試距離設(shè)計(jì)的半電波暗室，主要由3米法主暗室和操作控制室，用于3m距離的輻射抗擾度測(cè)試和輻射發(fā)射的符合性測(cè)試。完整的暗室系統(tǒng)可以覆蓋CISPR、EN、FCC、GB等多種標(biāo)準(zhǔn)，具備升級(jí)到全波暗室的能力。可廣泛應(yīng)用于IT產(chǎn)品，家用電器，工業(yè)電子用品，通信領(lǐng)域等電磁兼容測(cè)試。

典型屏蔽內(nèi)尺寸：9m（長(zhǎng)）*6m（寬）*6m（高）。

10m法電波暗室是按照10m測(cè)試距離設(shè)計(jì)的半電波暗室，主要由主暗室和控制室，用于10m或者3m距離的輻射抗擾度測(cè)試和輻射發(fā)射的符合性測(cè)試。10米法電波暗室是最具普及性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試環(huán)境，主要是為了滿(mǎn)足大尺寸電子系統(tǒng)的測(cè)試需求以及一些電子產(chǎn)品的行業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)之要求，也可以進(jìn)行3m法的測(cè)試，靜區(qū)可擴(kuò)大至5米甚至8米直徑或者更大，廣泛應(yīng)用于IT產(chǎn)品，家用電器，醫(yī)療器械，汽車(chē)整車(chē)和零部件，工業(yè)電子系統(tǒng)，通信領(lǐng)域等電磁兼容測(cè)試。

典型屏蔽內(nèi)尺寸：21m（長(zhǎng)）*12m（寬）*9m（高）。

二、3 米法與 10 米法暗室的區(qū)別

1. 測(cè)試距離：3 米法暗室和 10 米法暗室最顯著的區(qū)別在于測(cè)試距離。3 米法暗室適用于評(píng)估 3 米距離下的電磁兼容性，而 10 米法暗室適用于評(píng)估 10 米距離下的電磁兼容性。

2. 設(shè)備尺寸：由于測(cè)試距離的不同，3 米法暗室適用于小型電子設(shè)備，而 10 米法暗室適用于大型電子設(shè)備。對(duì)于大型設(shè)備而言，10 米法暗室更能體現(xiàn)其電磁兼容性。

3. 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：3 米法和 10 米法暗室都是常用的電磁兼容測(cè)試環(huán)境，但不同的國(guó)家和地區(qū)可能會(huì)有不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定。在選擇測(cè)試方法時(shí)，需要根據(jù)具體的產(chǎn)品和目標(biāo)市場(chǎng)來(lái)確定。

10 米法暗室和 3 米法暗室在電子產(chǎn)品測(cè)試中各有優(yōu)勢(shì)，需要根據(jù)被測(cè)設(shè)備的體積、測(cè)試需求等因素進(jìn)行選擇。在選擇暗室類(lèi)型時(shí)，應(yīng)充分考慮暗室的性能指標(biāo)、測(cè)試方法、應(yīng)用領(lǐng)域等因素，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

GTG廣測(cè)集團(tuán)十米法電波暗室已正式投入使用，以高標(biāo)準(zhǔn)、高規(guī)格通過(guò)驗(yàn)收、校準(zhǔn)及認(rèn)可，正式對(duì)外提供EMC符合性測(cè)試、摸底測(cè)試、場(chǎng)地租用等服務(wù)。

GTG廣測(cè)集團(tuán)擁有1座ETS-Lindgren 10m法電波暗室，4座3m法電波暗室，其中10m法和一座9*6*6滿(mǎn)足醫(yī)療設(shè)備EMC測(cè)試要求,最大電壓電流可達(dá)380V/200A（三相）和1000V/200 (DC)，測(cè)試能力廣，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)。

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