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在各種單片機應用系統中,芯片存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統的正常工作。為了提高系統的可靠性,對系統的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過(guò)測試可以有效地發(fā)現并解決因存儲器發(fā)生故障對系統帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機系統RAM測試方法,并在其基礎上提出了一種基于種子和逐位倒轉的RAM故障測試方法。
一、RAM測試方法回顧
方法1:一種測試系統RAM的方法是分兩步來(lái)檢查,先后向整個(gè)數據區送入#00H和#FFH,再先后讀出進(jìn)行比較,若不一樣,則說(shuō)明出錯。
方法2:方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤,在參考文獻中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標準算法MARCH-G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率,所需要的測試時(shí)間是很大的。MARCH-G算法需要對全地址空間遍歷3次。設地址線(xiàn)為”根,則CPU需對RAM訪(fǎng)問(wèn)6×2n次。
方法3:一種通過(guò)地址信號移位來(lái)完成測試的方法。在地址信號為全O的基礎上,每次只使地址線(xiàn)Ai的信號取反一次,保持其他非檢測地址線(xiàn)Aj(i≠j)的信號維持0不變,這樣從低位向高位逐位進(jìn)行;接著(zhù)在地址信號為全1的基礎上,每次只使地址線(xiàn)Ai的信號取反一次,保持其他非檢測地址線(xiàn)Aj(i≠j)的信號維持1不變,同樣從低位向高位逐位進(jìn)行。地址信號的移位其實(shí)就是按照2K(K為整數,大值為地址總線(xiàn)的寬度)非線(xiàn)性尋址,整個(gè)所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過(guò)移位產(chǎn)生的。在地址變化的給相應的存儲單元寫(xiě)入不同的偽隨機數據。在以上的寫(xiě)單元操作完成后,再倒序地將地址信號移位讀出所寫(xiě)入的偽隨機數據并進(jìn)行檢測。設地址線(xiàn)為n根,則CPU只對系統RAM中的2n+2個(gè)存儲單元進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。
二、基于種子和逐位倒轉的RAM測試方法
基于種子和逐位倒轉的測試方法是在方法3的基礎上改進(jìn)獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個(gè)背景數來(lái)移位展開(kāi)的,與MARCH-G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些,但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數稱(chēng)為“種子”。以地址線(xiàn)為8根的RAM為例,種子分別取00000000和11111111兩個(gè)數,取00000000、11111111、0000llll和llll0000四個(gè)數,以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八個(gè)數來(lái)移位展開(kāi)測試,所達到的故障覆蓋率是不一樣的。種子數為2的改進(jìn)方法要低于MARCH-G算法的故障覆蓋率,種子數為4的改進(jìn)方法與MARCH-G算法相當,種子數為8的改進(jìn)方法能夠超過(guò)MARCH-G算法的效果。整體上基于種子和逐位倒轉的改進(jìn)方法是可以代替MARCH-G算法的,種子數目不同所需要的尋址次數也是不同的。設地址線(xiàn)為n根,種子數為2時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計4”+4次,種子數為4時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計8n+8次,種子數為8時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計16n+16次,而MARCH-G算法需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計6×2n次。可見(jiàn),基于種子和逐位倒轉的改進(jìn)方法比MARCH-G算法的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)大大降低。故障覆蓋率會(huì )隨著(zhù)種子數目的增加而提高,當然不同種子數時(shí)所需要的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)也不同。在實(shí)際測試應用中要根據測試時(shí)間和測試故障覆蓋率的需求來(lái)選擇合適的種子數目,才能達到滿(mǎn)意的效果。