高加速老化試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱(chēng)HALT試驗）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示設計缺陷和不足的過(guò)程。老化試驗的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

高加速老化試驗是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發(fā)現產(chǎn)品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。試品通過(guò)HALT所暴露的缺陷，涉及線(xiàn)路設計、工藝、元部件和結構等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設計和試產(chǎn)階段，通過(guò)試驗，快速發(fā)現產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進(jìn)和驗證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開(kāi)關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。

在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進(jìn)的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動(dòng)，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據。

高加速老化試驗：以連續的測試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗證構成了整個(gè)程序，可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過(guò)程。往往一個(gè)測試計劃，需要重復進(jìn)行幾次，除非一次性能經(jīng)受加速應力試驗。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。

高加速老化試驗的主要功能如下：

1．利用高環(huán)境應力將產(chǎn)品設計缺陷激發(fā)出來(lái)，并加以改善；

2. 了解產(chǎn)品的設計能力及失效模式；

3. 作為高應力篩選及制定品質(zhì)核查規格的參考；

4. 快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵；

5. 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本；

6. 建立產(chǎn)品設計能力數據庫，為研發(fā)提供依據并縮短設計制造周期。