GJB4.11-83艦船電子設備環(huán)境試驗鹽霧試驗

本部分主要確定電子元器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評定金屬保護層的質(zhì)量及其均勻性，特別適用于對類(lèi)似保護層進(jìn)行比較。本標準規定了艦船電子設備的元器件及零部件的鹽霧試驗，它是制定艦船電子設備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標準等技術(shù)文件相應部分的基礎和選用的依據.

鹽霧沉降率的數值應為1.0-2.0毫米/80厘米2.小時(shí)。鹽溶液的溫度應與箱溫一致，噴霧液不許重復使用。試驗采用間歇噴霧方法，在溫度35時(shí)，連續噴霧8小時(shí)，停止加熱，停止噴霧，在靜止和密閉狀態(tài)下保持16小時(shí)，共24小時(shí)為1個(gè)周期。檢測：按照有關(guān)標準規定，對樣品進(jìn)行外觀(guān)檢查及電性能的檢測。實(shí)驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實(shí)驗室能力的通用要求》（CNAS-CL01）《檢測和校準實(shí)驗室能力認可準則》）的