檢測項目溫度濕度偏置循環(huán)壽命測試、穩態(tài)濕熱偏置壽命試驗、高加速蒸煮試驗、高溫存儲壽命試驗、溫度循環(huán)試驗、加電溫度循環(huán)試驗、溫度沖擊試驗、鹽霧試驗、溫度偏置工作壽命試驗、高加速壽命試驗、高加速無(wú)偏置壽命試驗、振動(dòng)和掃頻試驗、可靠性試驗、老化試驗、半導體封裝測試、浸漬試驗、低氣壓試驗、溫度沖擊試驗、沙塵試驗，外部火焰試驗、低頻振動(dòng)試驗、隨機跌落實(shí)驗、穩態(tài)濕熱試驗、高頻振動(dòng)試驗，隨機振動(dòng)試驗，耐溶劑試驗，顆粒碰撞噪聲試驗，介質(zhì)耐壓測試，絕緣電阻測試，直流電阻測試，電容量測試，品質(zhì)因數測試，接觸電阻測試，旋轉壽命試驗，固定電阻器電流噪聲測試，強碰撞沖擊，可焊性，X射線(xiàn)照射，引出端強度，加速度試驗，電阻電壓系數測試等。相關(guān)檢測標準GJB360B 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗

GB/T 2423.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動(dòng)–一般要求

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