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產(chǎn)品高加速HALT試驗依據基礎標準GB/T《電工電子產(chǎn)品加速試驗規程高加速壽命試驗導則》進(jìn)行測試。

試驗應力：高溫步進(jìn)、低溫步進(jìn)、快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機振動(dòng)等測試應力類(lèi)型。

試驗項目：

常溫性能試驗；

溫度均勻性測試；

低溫步進(jìn)試驗；

高溫步進(jìn)試驗；

快速溫度循環(huán)試驗；

振動(dòng)步進(jìn)試驗；

快速溫變循環(huán)與振動(dòng)步進(jìn)綜合試驗。

高加速壽命（HALT）試驗簡(jiǎn)介：

高加速試驗一般分為高加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱(chēng)HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒(méi)有預先設定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應力，直至失效，試驗中需要對產(chǎn)品進(jìn)行監測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產(chǎn)品通過(guò)HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應力篩選,應力低于HALT試驗。可開(kāi)展的Halt/Hass試驗，提供低溫步進(jìn)應力試驗、高溫步進(jìn)應力試驗、振動(dòng)步進(jìn)應力試驗、快速熱循環(huán)試驗和綜合應力試驗，在這些試驗過(guò)程中，往往伴隨著(zhù)工作應力如產(chǎn)品開(kāi)/關(guān)機，電壓位偏，頻率拉偏等。

HALT用以暴露與產(chǎn)品設計有關(guān)的早期失效故障，也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內抗隨機故障的壯實(shí)度；HASS應用于產(chǎn)品制造階段，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關(guān)的早期失效率。產(chǎn)品的HALT試驗總是先于HASS試驗進(jìn)行，因為HASS試驗剖面圖參數要根據HALT的試驗結果來(lái)確定。

HALT采用對樣品系統地施加步進(jìn)應力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應力（振動(dòng)、溫度和濕度等）、附加應力（電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等）和工作應力來(lái)快速激發(fā)產(chǎn)品的設計缺陷，暴露設計薄弱環(huán)節，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，從而在短期內為產(chǎn)品改進(jìn)設計提供信息。在應力步進(jìn)施加過(guò)程中各量級應力可以大大走出技術(shù)規范極限。