DP1.2/1.4信號完整性,接口一致性檢測

眼圖的判斷標準

在實(shí)際測試時(shí)，為了提高測試效率，經(jīng)常使用的方法是Mask Testing。即根據信號傳輸的需求，在眼圖上規定一個(gè)區域（一般為菱形區域），要求左右的信號全部出現在這個(gè)區域之外(睜眼)，一旦菱形區域內有出現信號(既閉眼)，則宣布測試未通過(guò)。
在對于一個(gè)眼圖進(jìn)行好和壞的評估時(shí)，通常都有一些常見(jiàn)的衡量指標，比如眼高，眼寬，抖動(dòng)，占空比等，如上圖。通過(guò)對眼睛不同部位的表征，可以快速地判斷和定性信號的問(wèn)題。比如眼圖跳變沿交叉點(diǎn)的上下區域可以代表占空比，如果上下區域比例不對稱(chēng)，則代表占空比的結果可能存在問(wèn)題。
不同的眼圖可以反映不同的信號質(zhì)量，對于有經(jīng)驗的工程師可以從眼圖上發(fā)現信號是否存在阻抗不匹配導致的反射，以及某種抖動(dòng)成分偏大，甚至知道如何來(lái)優(yōu)化眼圖質(zhì)量。總體來(lái)說(shuō)：
眼圖的張開(kāi)度與抖動(dòng)和BER相關(guān)聯(lián)；
眼圖張開(kāi)越大，表明對噪聲和抖動(dòng)的容許誤差越大；
眼圖張開(kāi)越大，表明接收器判斷靈敏度越好；
眼頂、眼底和轉換區域寬表明接收器判斷靈敏度降低

頻譜測試
對于產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)前期，這種測試應用相對比較少，對于后期的系統測試，比如EMC測試，很多產(chǎn)品都需要測試。通過(guò)該測試發(fā)現某些頻點(diǎn)超標，可以使用近 場(chǎng)掃描儀(其中關(guān)鍵的儀器是頻譜儀)，例如EMC SCANER，來(lái)分析板卡上面具體哪一部分的頻譜比較高，從而找出超標的根源所在。這些設備相對都比較昂貴，中小公司擁有的不多，通常情況下都是 在設計時(shí)仔細做好匹配和屏蔽，避免后面測試時(shí)發(fā)現信號頻譜超標，因為后期發(fā)現了問(wèn)題，很多情況下是很難定位的。