DP1.2/1.4信號完整性,接口一致性檢測

眼圖的判斷標(biāo)準(zhǔn)

在實(shí)際測試時(shí)，為了提高測試效率，經(jīng)常使用的方法是Mask Testing。即根據(jù)信號傳輸?shù)男枨螅谘蹐D上規(guī)定一個(gè)區(qū)域（一般為菱形區(qū)域），要求左右的信號全部出現(xiàn)在這個(gè)區(qū)域之外(睜眼)，一旦菱形區(qū)域內(nèi)有出現(xiàn)信號(既閉眼)，則宣布測試未通過。
在對于一個(gè)眼圖進(jìn)行好和壞的評估時(shí)，通常都有一些常見的衡量指標(biāo)，比如眼高，眼寬，抖動，占空比等，如上圖。通過對眼睛不同部位的表征，可以快速地判斷和定性信號的問題。比如眼圖跳變沿交叉點(diǎn)的上下區(qū)域可以代表占空比，如果上下區(qū)域比例不對稱，則代表占空比的結(jié)果可能存在問題。
不同的眼圖可以反映不同的信號質(zhì)量，對于有經(jīng)驗(yàn)的工程師可以從眼圖上發(fā)現(xiàn)信號是否存在阻抗不匹配導(dǎo)致的反射，以及某種抖動成分偏大，甚至知道如何來優(yōu)化眼圖質(zhì)量?？傮w來說：
眼圖的張開度與抖動和BER相關(guān)聯(lián)；
眼圖張開越大，表明對噪聲和抖動的容許誤差越大；
眼圖張開越大，表明接收器判斷靈敏度越好；
眼頂、眼底和轉(zhuǎn)換區(qū)域?qū)挶砻鹘邮掌髋袛囔`敏度降低

頻譜測試
對于產(chǎn)品的開發(fā)前期，這種測試應(yīng)用相對比較少，對于后期的系統(tǒng)測試，比如EMC測試，很多產(chǎn)品都需要測試。通過該測試發(fā)現(xiàn)某些頻點(diǎn)超標(biāo)，可以使用近 場掃描儀(其中關(guān)鍵的儀器是頻譜儀)，例如EMC SCANER，來分析板卡上面具體哪一部分的頻譜比較高，從而找出超標(biāo)的根源所在。這些設(shè)備相對都比較昂貴，中小公司擁有的不多，通常情況下都是 在設(shè)計(jì)時(shí)仔細(xì)做好匹配和屏蔽，避免后面測試時(shí)發(fā)現(xiàn)信號頻譜超標(biāo)，因?yàn)楹笃诎l(fā)現(xiàn)了問題，很多情況下是很難定位的。