LVDS接口測試，眼圖測試，LVDS時(shí)序測試，抖動(dòng)測試，上升時(shí)間和下降時(shí)間測試

LVDS是什么？

LVDS（Low Voltage Differential Signaling，即低電壓差分信號）接口又稱(chēng)RS-644總線(xiàn)接口，是20世紀90年代才提出的一種數據傳輸和接口技術(shù)。LVDS接口是美國NS美國國家半導體公司為克服以TTL電平方式傳輸寬帶高碼率數據時(shí)功耗大，電磁干擾大等缺點(diǎn)而研制的一種數字視頻信號傳輸方式。由于其采用低壓和低電流驅動(dòng)方式，實(shí)現了低噪聲和低功耗。LVDS技術(shù)具有低功耗、低誤碼率、低串擾和低輻射等特點(diǎn)，其傳輸介質(zhì)可以是銅質(zhì)的PCB連線(xiàn)，也可以是平衡電纜。LVDS在對信號完整性、低抖動(dòng)及共模特性要求較高的系統中得到了越來(lái)越廣泛的應用，常見(jiàn)于液晶電視中。

LVDS 工作原理是如何的？ 

在液晶彩電中，LVDS接口電路位于液晶彩電Scaler電路與液晶面板之間，它由主板側的LVDS信號發(fā)送電路（發(fā)送器）和液晶面板側的接收電路（接收器）共同組成。LVDS發(fā)送器將Scaler輸出的TTL電平并行RGB數據信號和控制信號轉換成低電壓串行LVDS信號，通過(guò)主板與液晶面板之間的柔性電纜（排線(xiàn)）將信號傳送到液晶面板側的LVDS接收器，LVDS接收器再將串行信號轉換為T(mén)TL電平的并行信號送往后續電路（一般是定時(shí)控制器TCON）。

LVDS接口定義是咋樣的？

LVDS 接口是咋樣的？

① SI信號完整性測試，主要內容是電源上電時(shí)序、復位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。

② PI電源完整性測試，主要內容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動(dòng)電路參數、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數。

③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。

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